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浙江BEX-8501 塞曼效应实验装置生产企业 值得信赖 杭州博源光电科技供应

上传时间:2025-04-17 浏览次数:
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BEX-8208 , iToF光速测量实验装置

【实验简介】ToF是一种利用光飞行时间的光学测距方式,大量应用于激光雷达、深度摄像头等三维深度感知传感器上。因此,可以利用激光雷达在已知距离的情况下测量光速。通过激光模组、导轨、反射块组件、控制器构成的实验装置,使学生能够了解基于飞行时间测量光速和不同介质折射率,iToF相位法测量光速的原理。

【仪器特点】1.同时支持飞行时间和相位法光速测量。2.ps量级的飞行时间测量和显示。3.支持单次测量和连续测量模式。4.模块化设计,实验装调方便灵活。5.工业级设计,确保了实验的稳定性。6.支持示波器测量和数字化采集器测量。

【主要实验内容】1.空气中的光速测量2.液体中的光速测量及介质折射率计算。3.固体中的光速测量及介质折射率计算。4.基于相位调制信号的光速测量。5.扩展实验:其他透明液体和固体介质测量。 浙江BEX-8501 塞曼效应实验装置生产企业霍尔效应实验装置,依据霍尔效应原理,可测载流子浓度,用于研究半导体材料特性。

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霍尔效应实验装置可用于测量磁场,基于载流子在磁场中受力偏移原理。浙江BEX-8501 塞曼效应实验装置生产企业

BEX-8508C,P型N型霍尔效应实验装置

仪器特点:

1.提供P型和N型两种硅基半导体霍尔片。

2.双掷开关可即时切换待测P型和N型霍尔片。

3.全明接线,开放式霍尔片和刀闸组件。

4.小于5mm的磁隙,提供大于500mT的均匀磁场。

5.开放式、模块化、数字化设计。

主要实验内容:

1.研究霍尔电压与霍尔片中工作电流的关系。

2.研究霍尔电压与磁感应强度(电磁铁励磁电流)的关系。

3.研究霍尔片不等位电势差对霍尔电压的影响和消除方法。

4.判断半导体材料的载流子类型。

5.研究P型和N型半导体材料的霍尔系数、载流子浓度、电导率和迁移率。 浙江BEX-8501 塞曼效应实验装置生产企业

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